cpk與ppk的區(qū)別iatf（ppk與cpk的區(qū)別）

關(guān)于cpk與ppk的區(qū)別iatf，ppk與cpk的區(qū)別這個(gè)問題很多朋友還不知道，今天小六來為大家解答以上的問題，現(xiàn)在讓我們一起來看看吧！

1、首先我們先說明Pp、Cp兩者的定義及公式Cp（Capability Indies of Process）：穩(wěn)定過程的能力指數(shù)，定義為容差寬度除以過程能力，不考慮過程有無偏移，一般表達(dá)式為：Pp（Performance Indies of Process）：過程性能指數(shù)，定義為不考慮過程有無偏移時(shí)，容差范圍除以過程性能，一般表達(dá)式為：（該指數(shù)僅用來與Cp及Cpk對(duì)比，或/和Cp、Cpk一起去度量和確認(rèn)一段時(shí)間內(nèi)改進(jìn)的優(yōu)先次序）CPU：穩(wěn)定過程的上限能力指數(shù)，定義為容差范圍上限除以實(shí)際過程分布寬度上限，一般表達(dá)式為：CPL：穩(wěn)定過程的下限能力指數(shù)，定義為容差范圍下限除以實(shí)際過程分布寬度下限，一般表達(dá)式為：2、現(xiàn)在我們來闡述Cpk、Ppk的含義Cpk：這是考慮到過程中心的能力（修正）指數(shù)，定義為CPU與CPL的最小值。

2、它等于過程均值與最近的規(guī)范界限之間的差除以過程總分布寬度的一半。

3、即：Ppk：這是考慮到過程中心的性能（修正）指數(shù)，定義為： 或 的最小值。

4、即：其實(shí)，公式中的K是定義分布中心μ與公差中心M的偏離度，μ與M的偏離為ε=| M-μ|3、公式中標(biāo)準(zhǔn)差的不同含義①在Cp、Cpk中，計(jì)算的是穩(wěn)定過程的能力，穩(wěn)定過程中過程變差僅由普通原因引起，公式中的標(biāo)準(zhǔn)差可以通過控制圖中的樣本平均極差估計(jì)得出。

5、因此，Cp、Cpk一般與控制圖一起使用，首先利用控制圖判斷過程是否受控，如果過程不受控，要采取措施改善過程，使過程處于受控狀態(tài)。

6、確保過程受控后，再計(jì)算Cp、Cpk。

7、②由于普通和特殊兩種原因所造成的變差，可以用樣本標(biāo)準(zhǔn)差S來估計(jì)，過程性能指數(shù)的計(jì)算使用該標(biāo)準(zhǔn)差。

8、4、幾個(gè)指數(shù)的比較與說明① 無偏離的Cp表示過程加工的均勻性（穩(wěn)定性），即“質(zhì)量能力”，Cp越大，這質(zhì)量特性的分布越“苗條”，質(zhì)量能力越強(qiáng)；而有偏離的Cpk表示過程中心μ與公差中心M的偏離情況，Cpk越大，二者的偏離越小，也即過程中心對(duì)公差中心越“瞄準(zhǔn)”。

9、使過程的“質(zhì)量能力”與“管理能力”二者綜合的結(jié)果。

10、Cp與Cpk的著重點(diǎn)不同，需要同時(shí)加以考慮。

11、② Pp和Ppk的關(guān)系參照上面。

12、③ 關(guān)于Cpk與Ppk的關(guān)系，這里引用QS9000中PPAP手冊(cè)中的一句話：“當(dāng)可能得到歷史的數(shù)據(jù)或有足夠的初始數(shù)據(jù)來繪制控制圖時(shí)（至少100個(gè)個(gè)體樣本），可以在過程穩(wěn)定時(shí)計(jì)算Cpk。

13、對(duì)于輸出滿足規(guī)格要求且呈可預(yù)測(cè)圖形的長期不穩(wěn)定過程，應(yīng)該使用Ppk。

14、”注：“所謂PPK，是進(jìn)入大批量生產(chǎn)前，對(duì)小批生產(chǎn)的能力評(píng)價(jià)，一般要求≥1.67；而CPK，是進(jìn)入大批量生產(chǎn)后，為保證批量生產(chǎn)下的產(chǎn)品的品質(zhì)狀況不至于下降，且為保證與小批生產(chǎn)具有同樣的控制能力，所進(jìn)行的生產(chǎn)能力的評(píng)價(jià)，一般要求≥1.33；一般來說，CPK需要借助PPK的控制界限來作控制。

本文分享完畢，希望對(duì)大家有所幫助。

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