加州大學(xué)洛杉磯分校和 Cedars-Sinai 的研究人員開發(fā)了一種新方法來檢測懷孕期間可能發(fā)生的可能危及生命的疾病。
這種情況，胎盤植入譜系障礙，當(dāng)胎盤長得太深進(jìn)入子宮壁并且在分娩后未能與子宮分離時(shí)，就會(huì)發(fā)生這種情況。它可能導(dǎo)致懷孕和分娩期間大量失血，需要輸血和重癥監(jiān)護(hù)，并且可能導(dǎo)致嚴(yán)重的疾病和感染，甚至對(duì)母親來說可能是致命的。這種情況發(fā)生在不到 0.5% 的懷孕中。
目前，胎盤植入譜系障礙是通過超聲結(jié)合對(duì)母親懷孕史的評(píng)估來診斷的。例如，先前的剖腹產(chǎn)和前置胎盤病史(胎盤覆蓋產(chǎn)道的情況)可能表明風(fēng)險(xiǎn)增加。但僅憑這些因素通常不足以可靠地檢測除最嚴(yán)重的病例以外的病例。
新的血液測試最早可以在懷孕的前三個(gè)月進(jìn)行，這樣可以盡早轉(zhuǎn)診給專門從事高危妊娠的醫(yī)生。在對(duì) 100 多名女性進(jìn)行的測試中，血液測試在確認(rèn)胎盤植入方面的準(zhǔn)確率為 79%，在排除陰性結(jié)果方面的準(zhǔn)確率為 93%。
加州大學(xué)洛杉磯分校大衛(wèi)格芬醫(yī)學(xué)院婦產(chǎn)科助理教授 Yalda Afshar 博士說：“及早準(zhǔn)確地發(fā)現(xiàn)這種高風(fēng)險(xiǎn)的產(chǎn)科問題可以極大地改善母親和嬰兒的結(jié)果。”該研究的第一作者。“由于目前的胎盤植入篩查方法不可靠，我們看到迫切需要?jiǎng)?chuàng)建一種易于實(shí)施的篩查，無論患者可用的資源如何，都可以在懷孕早期在所有醫(yī)療機(jī)構(gòu)中進(jìn)行篩查。”
一篇詳細(xì)介紹新方法的論文今天發(fā)表在Nature Communications 上。
這種新方法使用了一種名為 NanoVelcro Chip 的技術(shù)，該技術(shù)由加州大學(xué)洛杉磯分校分子和醫(yī)學(xué)藥理學(xué)教授 Yazhen Zhu 博士和 Hsian-Rong Tseng 在過去 15 年中開發(fā)。該芯片最初是為了檢測癌癥患者的腫瘤細(xì)胞而設(shè)計(jì)的，它是一種郵票大小的設(shè)備，其納米線比人的頭發(fā)細(xì) 1,000 倍，并涂有可以識(shí)別特定細(xì)胞的抗體。
在這項(xiàng)新研究中，研究人員調(diào)整了芯片，使其能夠檢測母親血液中與胎盤植入譜系障礙相關(guān)的胎盤細(xì)胞。這些稱為滋養(yǎng)層的細(xì)胞出現(xiàn)在懷孕的頭幾天。當(dāng)使用芯片檢測血液樣本時(shí)，滋養(yǎng)層細(xì)胞會(huì)粘附在芯片上，可以在顯微鏡下檢測到。血液中異常高的滋養(yǎng)細(xì)胞計(jì)數(shù)或滋養(yǎng)細(xì)胞簇表明胎盤植入障礙的風(fēng)險(xiǎn)升高。
標(biāo)簽： 納米技術(shù)設(shè)備
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